サン･ウォーター実験報告

１．現在まで
　　①75角パネルの室温放置と精密温度測定
　　・室温変化18～28℃に伴う発光強度と素子電圧の変化を測定
　　・恒温制御（温度範囲20～25℃）による、温度係数の精密測定
　　測定風景

　　②175角パネルの精密温度測定
　　・恒温制御（温度範囲20～25℃）による、温度係数の精密測定
　　・温度推移速度を10/20/40/80分の4段階に変えて、その違いを観測
　　
　　③30角ガラスデバイス等の評価試験により、
　　　照明パネルが温度変動レート（℃／hour）に比例して輝度上下する
　　　ことは、間違いないと考えます。
　　　当然に、素子電圧も少しの影響を受けていることでしょう。

有機EL寿命試験と温度係数

２．温度変動と輝度の関係性をシミュレーションしてのモデル化を進行中
　　①　現在温度に比例する１次温度係数と、変動レートの比例係数を分離・算出しました。
　　　　温度の微分時定数に数分もの遅れが判明し、大きな時定数が何に因るのかを考察中です。
　　②　発光面加熱＆背面に熱容量附加を実測しモデル化できましたが、
　　　　どうやら熱膨張が原因のようで、成膜の粘性と熱伝導遅れが関わっていると思われます。
　　　　ここにはデバイスの長期信頼性に関する有用な手掛かりが有ると考えています。

３．照明パネルの対角線上に中央から対称位置に4箇所ずつ計１６点の輝度変動を測定
　　位置による違い＝中央では周辺よりも1次比例・微分係数共に大きいことが判明しました。
　　その原因について鋭意考察中です。
　　測定風景

　　
４．照明パネルの発光面からの加熱
　　・照明パネルを非発光面から加熱する場合と、発光面から加熱する場合では、
　　　温度係数や温度微分係数はどう変化するか。
　　・非発光面に熱容量を付加した場合、時定数遅れは増加するか

５．今回実験の目的は、M２８０５の応用例を示して、お客様に供することにあります。
　　常温（25℃）近くでの寿命試験では、高価な恒温維持装置は不要であり、
　　１次温度係数を補正することで室温変動の影響を圧縮・除去できることを実証しました。

　　これは、M2805の卓越した高性能で初めて可能となることです。
　　☆単体I-Vソース機に匹敵する電流源を32個装備、１秒毎に全CHを測定できます。
　　☆電流源確度±0.04%、輝度測定分解能0.005％、素子電圧測定分解能0.3mV　！！

お客様でサンプルデバイスをご用意くだされば、出張実験にお伺いします。

精密DC駆動寿命試験装置Model2805Bの基本と応用例

弊社製品Model2805Bは極めて高精度な寿命試験装置ですが、その性能を十分に発揮するには電気測定に関する専門知識／経験が必要になります。
是非、以下のアプリケーションノートををお役立て下さい。

実験報告／アプリケーションノートにご興味のある方は、
本ページ下部にあるお問い合わせフォームからサン･ウォーターまでご連絡下さい。
無償でご提供いたします。

１．基本
　　本装置の特徴と基本確度仕様±0.04%の意味、環境条件。
　　全32個の電流源は、I-Vソース単体機に匹敵する精度を誇ります。
　　その為、外部I-Vソースは不要で、寿命試験中は常に精密電流駆動しています。

２．四端子法接続の採用・その必要性、素子電圧を0.3mV単位で測る。
　　有機EL素子との間は四端子法（ケルビン接続法）を採用していますが、その必要性は？
　　接続ケーブルの直流抵抗が大きな誤差要因となる場合、補償回路が必須になります。
　　
３．寿命試験
　　駆動切り替えスキャナ無しで、電流は長期間安定、駆動は一瞬も途切れません。
　　試験中に駆動電流を再測定して補正する手法はお勧めできません。
　　　　
４．有機EL素子の温度特性、温度係数の測定と演算補正処理
　　室温下では温度監視・記録が欠かせず、外部温度計と連携すべきです。
　　本機は有機EL素子が1℃振れたときの素子電圧と発光強度の変化を
　　測定・評価できる精度と分解能を有しています。
　　その為、汎用エアコン下の試験データであっても、補正演算処理することで、
　　室温変動の影響を補償/圧縮できます。
　　照明用OLEDによる演算補正の実験報告書あります。
　　
５．バージン素子の初期変動、初期輝度上昇の評価
　　成膜時の異物混入とフリッカー状初期変動の関係、並びに素子構造と初期輝度上昇。
　　全32chの素子電圧・輝度を１秒ごとに高精度測定できることの重要性。
　　社内で評価・試験を実施しました。
　　
６．寿命試験中の不規則・突発変動を補足
　　寿命試験経過数百時間であっても、全CHで１秒毎の測定・監視を継続できます。
　　滑らかに推移する傾向からの逸脱・突発変動を補足・記録できます。
　　寿命末期の突然死（消光）が、直前に上記突発変動を伴うならば、
　　消光の直前に検知し、発光強度・素子電圧の変動を記録できます。

７．LT10以降も試験可能
　　PD測光は近接6レンジも有り、試験開始時は分解能20,000以上を確保しています。
　　従って、LT10まで減光してもなお測光分解能は2000以上有り、自然消光までを正確に補足できます。

Model3208によるZ分光と発光輝度F特の測定

弊社製品Model3208を使って、OLEDサンプルの
Z分光（インピーダンスの周波数特性）と、
発光輝度F特（発光輝度の周波数特性）を測定しました。

実験報告にご興味のある方は、
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無償でご提供いたします。

１．従来FRA手法と新規FFT手法を比較し、優位性を検討
　　・FRAでのN回積分高価は、FFTの窓時間と全く同じ効果であることを検証した。
　　　FFT手法はFRA手法を内包している。両用機が望ましい。

２．輝度F特とは？（PDアンプの改良に伴い、改定）
　　・OLEDを発光させ、輝度の周波数特性（F特）を取得し、ナイキスト線図を表示。
　　　Z分光と似ているが、違いもある？

３．発光時の、Z分光と輝度F特の比較
　　・OLEDを3段階の強度で発光させ、その輝度とZのF特を比較
　　・周波数の高低両端で、輝度とZに相違があるのを発見！
　　　　
４．発光時ZのF特をシミュレーション
　　・低周波数での位相進み（電流遅れ）は何故？
　　
５．発光に寄与の電流F特を、Zからシミュレーションで再現
　　・周波数の高低両端で、輝度とZの違いを埋めるには
　　・追加/挿入したL値は説明可能か？
　　
６．輝度F特を逆FFTして得るもの
　　・輝度のインパルス応答、発光タイムパターンとは？
　　・発光遅延波形から、蛍光と燐光の違いが見えるか？

Model9401によるOLED駆動実験報告

この度OLEDのサンプルを購入し、
弊社製品Model9401を用いたOLEDの駆動実験を実施した結果をご報告します。
実験報告１のみ、pdfファイルでダウンロードできます。

実験報告２～８にご興味がある方は、
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　　１．試験概要と、パルス電流駆動について
　　　　発光波形

２．駆動電流を変えて同様試験　20,30,40mAでは？
　　・内部等価直列抵抗とＣ容量の推定

３．階段波で駆動、立ち上がりも観測。
　　・立ち上がりは遅いが、下がりは早い
　　・付録・素子のＩ－Ｖ特性を見る
　　　　
４．パルス駆動の終わりを、強制リセット（開放、0V、-2V）し、その発光下がりを観測する。
　　・キャリア移動と逆回復時間が見える？
　　・付録・高速ＰＤアンプ（40ns）の試作
　　　　　　
５．初期化バイアスにて、立ち上がり遅れを高速化する。
　　・効果大だが、十分ではない？
　　
６．電流プリチャージ手法の効果をみる

７．発光途中にパルス・AC印加して、発光遅れを観測する。
　　・電流対電圧の遅れ時間（位相）とキャリア移動時間
　　
８．インピーダンス分光測定の高速化試み
　　・ＦＦＴ手法と新案信号源は使えるか
　　・半円軌跡上に、渦巻き小円が乗っているのは何？

実験報告レポートのご請求

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